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產(chǎn)品簡介
北京光學(xué)傾斜儀 1、測量精度高，采用高靈敏度水準(zhǔn)器； 2、全封閉光學(xué)度盤； 3、讀數(shù)更方便，度盤示值與測微的示值同時在目鏡視場中顯示，穩(wěn)定性高； 5、儀器底板硬度高，不易磨損。
產(chǎn)品分類
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|
光學(xué)傾斜儀 角度測量儀 平面軸線位置檢測儀
型號：GR/JJ4 40″
北京光學(xué)傾斜儀產(chǎn)品特點
1、測量精度高，采用高靈敏度水準(zhǔn)器；
2、全封閉光學(xué)度盤；
3、讀數(shù)更方便，度盤示值與測微的示值同時在目鏡視場中顯示，穩(wěn)定性高；
5、儀器底板硬度高，不易磨損?！?nbsp;
北京光學(xué)傾斜儀產(chǎn)品用途
光學(xué)傾斜儀是一種基于水準(zhǔn)器的原理，能用來直接測量角度的儀器。可用來測量和安放平面或圓柱在空間與水平面間的角度位置，它可應(yīng)用于安裝或檢查機器和零件的平面軸線在空間的位置，并可間接應(yīng)用于機構(gòu)中各機件相對幾何位置的檢查和測量。適用于廠礦的計量室，檢定站和車間。
技術(shù)參數(shù)
顯微鏡放大倍數(shù)：40
金屬度盤格值：1°
玻璃度盤格值：1°
分劃板格值：1′
長水準(zhǔn)器格值：30″／2㎜
橫水準(zhǔn)器格值：4′／2㎜
測量范圍：±120°
儀器準(zhǔn)確度：40″
測量極限誤差：±1′
底板尺寸：50mm×150㎜
儀器重量：2.5㎏（附件包括標(biāo)配件和選購件，具體內(nèi)容詳見裝箱清單）
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